免费论文摘要：鉴于微中心X射线源的类同轴相位衬度成像表面接洽

X射线相位衬度成像（X-ray phase contrast imaging, XPCI）运用相位挪动反应物资里面电子密度变革，进而揭穿物体里面构造。对于弱接收物体而言，比拟保守X射线吸收获像，XPCI不妨供给更高的图像衬度，故特殊符合软构造和复合资料等低亚原子底数资料的成像运用。动作一类新式的成像本领，XPCI在成像体制和工程实行本领上面尚不完备。 按照成像道理和所用光源的各别，现已产生多种XPCI本领。因为处置了工程可行光源的题目，鉴于微中心X射线源的类同轴XPCI（in-line XPCI）本领具备更大的工程本质运用远景。所以，本舆论从物理成像体制和工程实行本领观点动身，深刻接洽了微中心X射线源in-line XPCI的两个目标：投影成像和层析成像。舆论所作接洽处事及博得的功效详细如次： （1）投影成像的成像机理和工程实行本领。 在成像机理上面，开始从复反射率系数动身，阐明了相位衬度成像本领及其特性；而后，鉴于基尔霍夫光学衍射公式，体例领会了电磁波近场菲涅尔旁轴衍射成像表面；并据此，推导了平行X光源和点X光源等关系光前提下的相位成像衬度调制公式；再借助互强度传递表面，推导了好像点X光源局部关系光前提下的调制公式；以此为普通，计划了光源中心尺寸、成像好多参数、管电压和光源能谱等参数对相位衬度的调制，产生了微中心X射线源类同轴相位衬度投影成像的表面普通。 在工程实行本领上面，开始计划了探测器辨别率和动静范畴对成像衬度的感化，实行了计划机仿真领会；而后，领会了样本厚薄与构造对相衬成像的感化，获得了物体厚薄与成像衬度的变革联系，给出了物体边际构造斜率变革和边际巩固功效的联系，计划了相衬成像对物体相位散布缺点的定量诉求；结果，鉴于X 光与物资的彼此效率进程，提出了运用瑞利散射-光电效力几率比和加权的瑞利散射-光电效力几率比对成像本能举行领会的本领。 （2）层析成像重修算法。 层析成像以多观点的投影成像数据集为普通，按照确定的重修本领回复物体二维构造，可克复投影成像生存的空间构造臃肿题目。为此，发展了层析成像重修算法接洽。对准圆轨迹锥束扫描微中心X射线源类同轴相位衬度层析成像，从Radon变幻对和投影成像调制模子动身，鉴于小锥角FDK好像道理，推导了一种领会重修本领，并对其举行了扩充，使其可满意体例硬件在三种各别好多牵制下的重修诉求，实行了数值仿真领会和试验考证。 对准稠密圆轨迹扫描微中心X射线源类同轴相位衬度层析成像，计划了一种鉴于代数迭代的重修本领；并对准迭代重修的功夫搀杂度和空间搀杂度较高的题目，给出了降维好像重修和辨别率逐级递加重修两种算法，实行了数值仿真领会和试验考证。

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