免费论文摘要：鉴于妨碍猜测的电子体例尝试点采用接洽

测试点选择是电子系统PHM系统设计过程中的一个重要步骤。在电子系统设计阶段要考虑产品功能特性、工作条件、故障特性和可测试性之间的关系，选择合适的测试点进行故障诊断。和故障预测支持。本文从故障机理的类型入手，分析了故障诊断和预测对测试点的不同要求，研究了仿真电子系统各级测试点的选择方法。论文的研究工作主要包括以下内容： (1)开展了国内外测试选择方法及相关内容的研究。在分析相关文献的基础上，将现有的测试点选择方法分为两类：结合具体故障诊断方法的测试点选择方法、基于测试点模型的测试点选择方法，并讨论了各自的优缺点.不足的。讨论了FMMEA和电路仿真方法，探讨了这些机理分析方法在测试点选择过程中的具体应用。 (2)研究了测试点性能评价方法。考虑到故障诊断和故障预测对故障信号的不同要求，针对过应力机制故障提出了测试点对故障的可测指标，针对磨损型机制故障提出了测试点对故障预测的及时性和可预测性指标。 .在此基础上，本文提出了一种可测性和可预测性的计算方法。 (3)研究了模拟电子系统测试点的选择方法。该方法根据模拟电子系统每一级的不同特点，提出了自己的选择流程，用于每一级测试点的选取。在设备级测试点选择过程中，针对两类故障建立故障矩阵，充分利用测试点信息，减少测试点数量。最后以某类电路板电源子系统为例，给出了系统测试点选取的具体过程。

来源：半壳优胜育转载请保留出处和链接！

本文链接：http://87cpy.com/294565.html