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测试是软件生命周期中一个独立的、关键的阶段,也是保证软件质量的重要手段。缺陷管理系统是对软件测试过程中的缺陷作统一的管理,使得软件人员能迅速、及时、准确地处理这些缺陷,提高软件质量,降低开发和维护费用。通过对历史缺陷数据的分析,对软件开发周期中的各个环节可能出现的缺陷问题进行有效的定位与预防,将会对改善系统可靠性与稳定性有非常重要的意义。通过对比分析RCA、SGM和ODC三种软件缺陷分析方法,本文提出了改进的基于软件生命周期的软件缺陷多点统计方法、基于调节因子K(x)的牛顿插值软件缺陷预测模型。本文详细阐述了基于调节因子K(x)的牛顿插值软件缺陷预测模型,在此基础上结合目前中国工商银行正在使用的Rational系统设计了软件缺陷扩展框架,并实现了基于这个扩展框架的软件缺陷预测与定位系统。
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