免费论文：基于SAT的组合电路测试生成方法研究

集成电路是全球经济发展的高速增长点，已成为国民经济中最具活力的行业。随着大规模集成电路的复杂度越来越高,对其质量和可靠性要求也越来越高。然而，传统的测试方法已不再能满足现代数字系统设计、验证的小开销需求，测试矛盾日益尖锐。针对这一问题，本文研究实现了基于布尔可满足性(Boolean Satisfiability, SAT)的组合电路测试向量生成方法，并开发了自动测试向量生成软件，为组合电路的测试生成提供了软件平台。论文主要研究内容如下：(1) 针对组合电路单固定故障测试问题，研究实现了基于SAT的测试向量生成(Test Pattern Generation, TPG)方法，将电路的测试生成问题转化为SAT问题，进而对SAT问题进行求解。首先，设计实现了合取范式(Conjunctive Normal Form, CNF )生成器和CNF合并器，将电路的测试生成问题转化为CNF；然后开发了求解CNF的SAT解析器，从而实现了测试向量的生成。(2) 结合电路结构信息和基于电路结构的测试向量生成算法启发式知识对基于SAT的测试向量生成算法进行了改进。首先，在基于SAT的测试生成算法中引入电路结构信息，有效解决抽象的CNF丢失电路拓扑信息的问题；然后将基于电路结构搜索算法的结构启发式知识转化为CNF子句，从而进一步修剪搜索空间。(3) 自动测试向量生成(Automatic Test Pattern Generation, ATPG)系统的设计。在工程上设计实现了一个组合电路自动测试向量生成系统，该系统包括电路网表解析、故障压缩、并行故障仿真以及测试向量生成四个模块，通过该系统验证了本文所提出测试生成算法的稳健性和有效性。

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