论文摘要：集成运算放大器寿命评估技术研究

作为模拟电路技术的基础，集成运算放大器的可靠性对电路系统至关重要。使用寿命是评价集成运放可靠性的重要技术指标。本文以典型的模拟集成电路——某型集成运放为研究对象，研究其寿命评估技术，分析研究该类器件的失效机理，确定该类器件的敏感参数。工程案例；对该型号集成运放的测试样品进行加速降解试验，然后根据降解敏感参数及相关数学处理方法，评价该型号器件在室温下的工作寿命和可靠性。本文主要研究内容如下： 1) 集成运放的寿命影响因素及敏感参数研究了采用双极技术的集成运放的故障模式和失效机理，总结了此类集成运放的常见缺陷。 .相关分析案例确定温度和电应力是影响寿命的主要因素。结合以往工程案例的结果，确定该类集成运放的主要敏感参数为输入偏置电流、共模抑制比和开环增益。 2) 集成运放性能参数在线测试系统设计 根据集成运放测试标准设计测试电路，根据集成运放的工作特点设计典型工作电路放大器，并设计完成被测设备的外围工作/测试。用于电路切换的电气连接，以及与数据采集系统的集成。搭建数据采集系统，编写数据处理程序。该数据采集系统实现了加速测试过程中多通道集成运算放大器的定期参数测量和数据采集。 3) 集成运放加速退化模型及加速测试方法结合双极型集成运放的结构特点、失效模式和失效机理，分析了各敏感参数的退化规律。分钟分析了对应的劣化模型，并根据测试对象信息和以往的加速劣化测试案例，完成了某型集成运放加速劣化测试的方案设计。加速退化试验设计包括试验应力的施加、样本量的确定、试验加速因子的研究、试验系统和测量方法、试验数据的处理和失效标准的研究。最后，根据相关模型对测试数据采用合适的数据处理方法，完成被测器件的寿命评估。

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