免费论文：电子设备综合环境加速试验方法研究

导弹的储存可靠性不仅是工业部门的重要发展指标，也是军队最关心的问题，是保证部队战斗力的真正体现。为了确定导弹定型时的贮存寿命，加速贮存试验越来越受到重视。目前加速测试方法的应用受到加速模型的限制，仅适用于组件和材料级测试。设备级产品包含多种部件和材料，导致其存储失效的因素或机理复杂，不能满足加速寿命试验的单一失效机理要求。加速测试研究。本文以电子设备为研究对象，开展以下几方面的工作： 基于电子设备“存储时间长、故障率低”的特点，考虑到整个存储阶段遇到的各种环境应力，通过实验设计方法分析 分析比较研究，结合电子设备本身的特点，在实验设计方法中选择析因设计方法进行电子设备综合环境加速储存试验设计，取温度、湿度以电压和电压为例，对三应力三级环境加速储存试验设计进行综合分析。基于电子设备寿命服从指数分布的特点，主要开展基于加速模型和可靠性增长的加速存储寿命评估方法研究。基于加速模型的加速贮存寿命评价方法首先研究加速模型中的阿伦尼斯模型和逆幂律模型，结合电子设备的寿命分布类型研究加速系数，最后采用最大似然估计评估电子设备在存储应力下的寿命和故障率；基于可靠性增长的加速贮存寿命评价方法主要是基于Duane模型和Amass模型得到其理想降压加速模型，结合理想降压加速模型得到各种应力水平下的加速度。系数，最后评估产品储存寿命。利用阶跃应力加速寿命试验数据和阶跃应力加速寿命试验数据，分别进行了基于加速模型的加速贮存寿命评价方法和提高可靠性的加速贮存寿命评价方法蒙特卡罗模拟，将两种加速贮存本文的寿命评价方法得到了证明。该方法适用于降压和加速寿命试验数据，对试验中的样品失效次数没有限制。最后验证了本文的两种加速贮存寿命评价方法对两种试验数据类型的有效性和正确性。 .文章最后对全文的研究内容进行了总结并对进一步的工作进行了展望。

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