论文摘要：综合孔径微波辐射计的光学处理技术仿真与实验研究

合成孔径成像技术由于不需要使用大尺寸天线就可以得到较高的分辨率，近年来取得巨大的发展和广泛的应用。然而，传统的电学处理方法需要进行大量的信号相关和反演运算，从而会耗费大量的时间，很难实现实时成像。本文介绍了一种新型合成孔径技术，将视场辐射信号的幅度和相位信息通过电光调制加载到光载波上，通过光学处理过程即可迅速成像。本论文首先根据实验室前期研制的被动毫米波成像系统，对光学成像的成像原理和系统结构进行了分析，推导出了系统的点响应函数，对不同阵列排布情况下的成像效果进行了仿真与研究，从成像效果角度分析了天线阵列排布的最佳选择。然后对系统的关键技术进行了重点研究。提出了基于滤波法实现单边带调制，并进行了实验验证。在相位校准方面，提出了多种方案，并确定一种基于反馈法实现的方案最佳。最后，结合目前的器件水平，建立了相应的实验系统，对一维、二维阵列的成像进行了实验与结果分析，验证了本技术成像的可行性，并讨论了该技术尚存在的问题与应用前景。

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